[소프트웨어공학] 통합설계(하향식 통합 검사, 상향식 통합 검사)

[소프트웨어공학] 하향식 통합 검사, 상향식 통합 검사

하향식 통합 검사(Top Down Integration Test)

상위 모듈에서 하위 모듈 방향으로 통합하며 검사

• 주요 제어 모듈 기준으로 아래로 통합하며 이동
• 우선 통합법, 깊이 우선 통합법, 넓이 우선 통합법 등이 있음

절차

1. 주요 제어 모듈을 드라이버(검사 자료 입출력 제어 프로그램)로 사용.
   주요 제어 모듈의 종속 모듈들을 스터브(임시 제공되는 가짜 모듈)로 대체
• ex) A와 B가 결합된 C모듈이 있을 때 하향식 검사는 A와 B에서 옳은 값이 들어온다는 가정 하에 C가 잘 작동 하는 것인지 보는 것이므로, A와 B로부터 와야 할 값을 임의로 설정해 두는 것이다.
2. 깊이 우선, 넓이 우선 방식에 따라 종속 스터브들이 실제 모듈로 교체.
3. 모듈이 통합될 때마다 검사 실시.
4. 새로운 오류가 생기지 않음을 보증하기 위해 회귀 검사 실시.

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상향식 통합 검사(Bottom Up Integration Test)

하위 모듈에서 상위 모듈 방향으로 통합하며 검사

• 가장 하위 단계의 모듈부터 수행되므로 스터브가 필요 없음.
• 대신 하나의 주요 제어모듈과 관련된 종속 모듈의 그룹인 클러스터가 필요

절차

1. 하위 모듈들을 클러스터(Cluster)로 결합
2. 검사 사례 입출력 조정을 위해 드라이버(Driver) 작성.(제어 모듈이 없으므로)
3. 클러스터 검사.
4. 드라이버 제거 후, 클러스터는 프로그램 구조의 상위로 이동하여 결합.

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출처

• https://m.blog.naver.com/PostView.nhn?blogId=agopwns&logNo=220998971498&proxyReferer=https%3A%2F%2Fwww.google.com%2F