[소프트웨어공학] 통합설계(하향식 통합 검사, 상향식 통합 검사)
[소프트웨어공학] 하향식 통합 검사, 상향식 통합 검사
하향식 통합 검사(Top Down Integration Test)
상위 모듈에서 하위 모듈 방향으로 통합하며 검사- 주요 제어 모듈 기준으로 아래로 통합하며 이동
- 우선 통합법, 깊이 우선 통합법, 넓이 우선 통합법 등이 있음
절차
- 주요 제어 모듈을 드라이버(검사 자료 입출력 제어 프로그램)로 사용.
주요 제어 모듈의 종속 모듈들을 스터브(임시 제공되는 가짜 모듈)로 대체 - ex) A와 B가 결합된 C모듈이 있을 때 하향식 검사는 A와 B에서 옳은 값이 들어온다는 가정 하에 C가 잘 작동 하는 것인지 보는 것이므로, A와 B로부터 와야 할 값을 임의로 설정해 두는 것이다.
- 깊이 우선, 넓이 우선 방식에 따라 종속 스터브들이 실제 모듈로 교체.
- 모듈이 통합될 때마다 검사 실시.
- 새로운 오류가 생기지 않음을 보증하기 위해 회귀 검사 실시.
상향식 통합 검사(Bottom Up Integration Test)
하위 모듈에서 상위 모듈 방향으로 통합하며 검사
- 가장 하위 단계의 모듈부터 수행되므로 스터브가 필요 없음.
- 대신 하나의 주요 제어모듈과 관련된 종속 모듈의 그룹인 클러스터가 필요
절차
- 하위 모듈들을 클러스터(Cluster)로 결합
- 검사 사례 입출력 조정을 위해 드라이버(Driver) 작성.(제어 모듈이 없으므로)
- 클러스터 검사.
- 드라이버 제거 후, 클러스터는 프로그램 구조의 상위로 이동하여 결합.
출처
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